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平均光强测试系统(CIE 127)
光谱仪、任何LS系列的LED插座及LSA 3000光强分布测试仪兼容。提高了空间收集的一致性和准确性测量过程符合国际认可的标准完整的光谱强度测量解决方案快速方便的定位操作及可重复的测量结果占用空间小
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平均光强测试系统-I2000(CIE 127)-蓝菲光学
平均光谱强度探头 Labsphere的I 1000 B型和I 2000 A&B型平均光谱强度探头专为测量封装式LED的CIE平均光谱强度而设计。I 2000的A型和B型之间转换非常方便
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单颗LED光强分布(光型)测试仪
Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计,主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射
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蓝菲光学 CIE A和B条件光强探头
CIE A和B条件光强探头I1000及I2000平均光谱强度探头 利用这些光谱强度探头扩展Labsphere光谱仪性能特点:改进空间收集的一致性和准确性测量过程符合国际认可的标准完整的光谱强度测量
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激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统
激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统 激光二极管测试系统激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统该款激光二极管和 LED 光电特
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门积分平均器Boxcar
字两种输出。门积分平均器Boxcar此系统采用模块化设计,可以根据不同客户的需求选择不同的模块。通常我们认为一套BOXCAR 应该至少包含以下模块:• SR280 主框架,包含电源• SR250(或
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光源影像式角度计SIG-400
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LED-LightBar 测试系统
LB-700 LightBar测试机是北京卓立汉光全新研制开发的 全自动测量设备,采用CIE127标准对正面发光或侧面发
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平均光强测试系统-I2000(CIE 127)-蓝菲光学
产地属性美洲自动程度手动型价格范围1万-3万Labsphere的I 1000 B型和I 2000 A&B型平均光谱强度探头专为测量封装式LED的CIE平均光谱强度而设计。 平均光谱强度探头
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材料阻抗测试系统
仪器简介: ModuLab XM MTS(材料电特性测试系统)是模块化的,完全整合的研究系统,可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术,如恒定电流
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